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光電子器件LED失效分析：隨著LED應用的飛速發(fā)展，其失效問題也隨之表現(xiàn)的尤為突出，特別是LED隨機性不點燈或性不點燈，以及燒燈等，是困擾產(chǎn)品可靠性壽命的關鍵問題。廣電計量通過對LED內(nèi)部的微觀分析，確認其結構上的失效特征，可以改進設計、制造、工藝及應用上的潛在或已存在的失效風險，提高產(chǎn)品的可靠性及壽命。

光電器件 電磁繼電器電性能測試：繼電器是一種自動控制開關，當其輸入端的物理量達到某一量值時，其輸出端的狀態(tài)發(fā)生階躍式變化。繼電器廣泛應用于遙控、遙測、通訊、自動控制、機電一體化及電力電子設備中，是最重要的控制元件之一。廣電計量提供電磁繼電器電性能測試服務，為實際使用發(fā)生失效的繼電器進行宏觀及微觀的分析，確定其失效模式及其失效的機理。

PCB PCBA金相切片試驗 光電器件測試：金相切片是電子行業(yè)中常用的產(chǎn)品內(nèi)部質量評價方法。廣電計量擁有完整的切片分析測試設備，經(jīng)驗豐富的切片分析人才，能夠高效準確的提供切片服務。

AD/DA轉換器電性能測試 光電器件:AD/DA轉換器是將數(shù)字量轉換為模擬量的電路，主要用于數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)、自動測試設備、醫(yī)療信息處理、電視信號的數(shù)字化、圖像信號的處理和識別、數(shù)字通信和語音信息處理等。對AD/DA轉換器進行有效的檢測，是提高企業(yè)產(chǎn)品質量的保證。越復雜的生產(chǎn)場景對AD/DA轉換器芯片的可靠性越高，電性能測試是檢驗AD/D啊A芯片功能性能可靠性的主要手段。

光電器件三端穩(wěn)壓器電氣性能測試：三端穩(wěn)壓器主要包括兩種，一種輸出固定電壓，稱為固定輸出三端穩(wěn)壓器；另一種輸出可調(diào)電壓，稱為可調(diào)輸出三端穩(wěn)壓器。兩種穩(wěn)壓器基本原理相同，均采用串聯(lián)型穩(wěn)壓電路。在線性集成穩(wěn)壓器中，由于三端穩(wěn)壓器只有三個引出端子，具有外接元件少、使用方便、性能穩(wěn)定、價格低廉等優(yōu)點，因而得到廣泛應用。

5G通信 IC芯片開封試驗：廣電計量IC芯片開封試驗主要是切開剖面觀察金絲情況，及金球情況，表面鋁線是否受傷，芯片是否有裂縫，光刻是否不良,是否中測，芯片名是否與布線圖芯片名相符。

功率器件失效分析 電力電子器件：功率器件可靠性是器件廠商和應用方除性能參數(shù)外較為關注的，也是特性參數(shù)測試無法評估的，失效分析則是分析器件封裝缺陷、提升器件封裝水平和應用可靠性的基礎。廣電計量擁有業(yè)界的專家團隊及先進的失效分析設備，專注功率器件失效根因分析，可為客戶提供完整的失效根因分析服務。

第三代半導體器件全參數(shù)測試 電力電子器件:廣電計量專家團隊深入解讀IGBT測試相關標準，建立功率模塊可靠性驗證技術能力，可以為功率半導體產(chǎn)業(yè)上下游企業(yè)提供具有專業(yè)性的IGBT及第三代半導體器件全參數(shù)測試驗證報告。